Přednáška „Time-of-Flight Secondary Mass Spectrometry (TOF-SIMS)

Přednáška „Time-of-Flight Secondary Mass Spectrometry (TOF-SIMS):
Principle and Applications“ na PřF UJEP

Ve čtvrtek 12. 6. 2008 ve 14:00 hodin se v zasedací místnosti Přírodovědecké fakulty UJEP (místnost č. 502, nejvyšší podlaží hlavní budovy na adrese České mládeže 8, Ústí nad Labem) uskuteční přednáška Markuse Terhorsta (ION-TOF GmbH, Heisenbergstr. 15, 48149 Münster, Germany) s názvem „Time-of-Flight Secondary Mass Spectrometry (TOF-SIMS):

Principle and Applications“. Více…